Công ngh�?ChemiSEM của Thermo Scientific tích hợp kh�?năng quang ph�?phân tán năng lượng (EDS) theo thời gian thực vào giao diện người dùng của kính hiển vi, giúp đơn giản hóa quá trình phân tích và mang lại kết qu�?đáng tin cậy với đ�?lệch người dùng tối thiểu. Với các thuật toán định lượng trực tiếp và x�?lý d�?liệu t�?động, Công ngh�?ChemiSEM mang đến tốc đ�?và đ�?chính xác đ�?giúp bạn d�?dàng khám phá các tính năng ẩn và năm được thông tin chi tiết hơn v�?vật liệu.

Các nhà luyện kim và nhà nghiên cứu trong sản xuất thép cần d�?liệu t�?kính hiển vi điện t�?quét (SEM) và d�?liệu ph�?tán x�?năng lượng tia X (EDS) đ�?phân tích lỗi và cải tiến quy trình. Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM là h�?thống SEM đ�?bàn đa năng cho phép phân tích lỗi và mô t�?đặc tính t�?động của các tạp chất phi kim loại trong thép.

Phân tích tạp chất thép

Giải pháp linh hoạt này đ�?chụp ảnh chất lượng cao và phân tích nguyên t�?của các mẫu thép cung cấp d�?liệu cần thiết cho việc sản xuất thép có giá tr�?cao một cách hiệu qu�?ngày nay. Phân tích nhanh chóng, d�?dàng cho phép bạn phản hồi nhanh chóng các lỗi, hỏng hóc, v.v., và h�?thống t�?động mang lại kh�?năng phân tích thép tối ưu.

Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM là SEM đ�?bàn đa năng cho phép làm sạch k�?thuật �?cấp đ�?vi mô.

Đặc tính vật liệu

Một giải pháp linh hoạt đ�?phân tích nội b�? chất lượng cao, Phenom ParticleX Desktop SEM mang đến cho bạn kh�?năng thực hiện mô t�?đặc tính, xác minh và phân loại vật liệu nhanh chóng, h�?tr�?quá trình sản xuất của bạn với d�?liệu nhanh chóng, chính xác và đáng tin cậy. H�?thống này vận hành đơn giản và học nhanh, m�?ra kh�?năng phân tích hạt và vật liệu cho nhiều nhóm người dùng hơn.

Phân tích dư lượng súng (GSR) đóng một vai trò quan trọng trong việc xác định xem súng có s�?dụng trong một v�?án hay không. Các k�?thuật phân tích GSR đã được thiết lập dựa trên việc s�?dụng kính hiển vi điện t�?quét (SEM) , được s�?dụng đ�?quét mẫu và tìm các hạt GSR. Nếu tìm thấy một hạt kh�?nghi, k�?thuật ph�?tán sắc năng lượng tia X s�?được s�?dụng đ�?xác định các nguyên t�?trong hạt đó.

Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM là SEM chuyên dụng duy nhất được thiết k�?đặc biệt đ�?phân tích dư lượng súng. Bởi vì h�?thống được t�?động hóa nên nó cho phép bạn tăng tốc quá trình phân tích. Không cần phải thay đổi cài đặt mỗi lần, người dùng có th�?tập trung ngay vào nhiệm v�?quan trọng

Nguồn CeB6 có đ�?sáng cao là trung tâm của h�?thống Phenom đ�?bàn, mang lại kh�?năng s�?dụng hàng ngày lâu dài, đáng tin cậy. Phenom Perception GSR Desktop SEM giúp phân tích dư lượng thuốc súng theo yêu cầu, nhanh hơn, d�?dàng hơn và đáng tin cậy.

• Dung dịch đặc biệt đ�?phát hiện dấu vết hạt bụi súng
• Ch�?cần một không gian phòng thí nghiệm nh�?/li>
• Hoạt động ổn định, sẵn sàng 24/7
•  Nguồn CeB6 tuổi th�?cao

Kính hiển vi điện t�?quét đ�?bàn Thermo Scientific Phenom là thiết b�?lý tưởng đ�?chuyển đổi t�?kính hiển vi quang học ánh sáng sang kính hiển vi điện t�? Đây là một giải pháp tiết kiệm cho hình ảnh có đ�?phân giải cao, mang lại kết qu�?hình ảnh tốt nhất trong phân khúc.

Phenom Pure Desktop SEM cung cấp hình ảnh chất lượng cao nh�?nguồn CeB6 có đ�?sáng, tuổi th�?cao và mang đến thời gian tải và chụp ảnh nhanh chóng nhất. Tính năng t�?động lấy nét và căn chỉnh nguồn t�?động đáng tin cậy khiến nó tr�?thành h�?thống thân thiện với người dùng.

Dòng kính th�?h�?th�?6 của Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM đã cải tiến các tính năng giữa kính hiển vi ánh sáng và phân tích SEM đặt sàn, do đó m�?rộng kh�?năng của các cơ s�?nghiên cứu.

Nhanh chóng và d�?s�?dụng, Phenom Pro Desktop SEM có th�?được s�?dụng đ�?tối ưu phân tích các mẫu thường quy t�?các thiết b�?SEM đặt sàn. Cấu hình thiết b�?và cơ ch�?nạp mẫu đảm bảo chụp ảnh nhanh chóng với thời gian điều chỉnh tối thiểu giữa các lần th�?nghiệm.

Người dùng cơ s�?�?bất k�?cấp đ�?kinh nghiệm nào cũng có th�?nhanh chóng bắt đầu tạo ra kết qu�?chất lượng cao với Phenom Pro G6 Desktop SEM. Nguồn CeB₆ có tuổi th�?cao mang lại đ�?sáng cao trong khi yêu cầu bảo trì thấp. Ngoài ra, đ�?ổn định cao và h�?s�?dạng nh�?cho phép s�?dụng thiết b�?trong thực t�?mọi môi trường phòng thí nghiệm, không yêu cầu cơ s�?h�?tầng chuyên biệt hoặc s�?giám sát của chuyên gia.

Dòng kính th�?h�?th�?6 của Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM đã cải tiến các tính năng giữa kính hiển vi ánh sáng và phân tích SEM đặt sàn, do đó m�?rộng kh�?năng của các cơ s�?nghiên cứu. Nó cung cấp hình ảnh nhanh, đ�?phân giải cao cùng với đầu dò ph�?tán sắc năng lượng tia X  (EDS) tích hợp đ�?phân tích nguyên t�?nhanh chóng, d�?s�?dụng và mạnh m�?

Trong nghiên cứu và sản xuất pin, chất lượng vật liệu ngày càng tr�?nên quan trọng. Ví d�? các chất gây ô nhiễm nh�?trong bột NCM có th�?gây ra hậu qu�?tai hại cho sản phẩm cuối cùng. Đ�?theo dõi các chất gây ô nhiễm này một cách hiệu qu�? cần có hình ảnh SEM đ�?phân giải cao với phân tích EDS cho hóa học. Khi hoàn toàn t�?động, s�?kết hợp này là một công c�?mạnh m�?đ�?kiểm tra chất lượng bột.

Dòng Phenom XL G2 – kính hiển vi điện t�?quét đ�?bàn (SEM) Thermo Scientific th�?h�?tiếp theo t�?động hóa quy trình kiểm soát chất lượng, cung cấp kết qu�?chính xác, có th�?lặp lại đồng thời giải phóng thời gian cho công việc có giá tr�?gia tăng.

Phenom XL G2 cho phép:

• Có được thông tin chất lượng bạn cần đ�?phát hiện sớm các lỗi và nhanh chóng điều chỉnh quy trình sản xuất khi cần.
• T�?động hóa kiểm soát chất lượng đ�?x�?lý khối lượng lớn mẫu với ít kh�?năng xảy ra lỗi của con người hơn.
• Tăng tốc nhanh chóng với giao diện hoàn toàn mới, d�?học, lý tưởng cho nhiều ứng dụng.

Phenom XL G2 Desktop SEM có hình ảnh toàn màn hình và thời gian tạo ảnh trung bình là 60 giây. Nguồn điện t�?CeB6 độc đáo mang lại tuổi th�?lâu dài và ít phải bảo trì hơn. Kiểu dáng nh�?gọn giúp tối ưu không gian trong phòng thí nghiệm.

SEM đ�?bàn tương thích với Phenom XL G2 Argon

Kính hiển vi điện t�?quét đ�?bàn (SEM) tương thích với Thermo Scientific Phenom XL G2 t�?động hóa quy trình làm việc đồng thời cung cấp môi trường ổn định, không phản ứng cho nghiên cứu mẫu phản ứng.

SEM đ�?bàn tương thích Phenom XL G2 Argon cung cấp:

• Một môi trường không phản ứng đ�?tiến hành nghiên cứu mẫu phản ứng trên các mẫu như pin lithium trạng thái rắn
• Một phương thức mà bạn có th�?chuẩn b�?mẫu và phân tích SEM/EDX trong cùng một không gian làm việc
• Một cách an toàn hơn đ�?tiếp xúc với các mẫu có đ�?bay hơi cao như lithium th�?rắn, tạo điều kiện cho th�?h�?pin tiếp theo có tuổi th�?cao hơn, thân thiện với môi trường

SEM đ�?bàn tương thích Argon XL G2 có thời gian tạo ảnh tương t�?60 giây như Phenom XL G2 SEM, đồng thời có th�?đặt đặt trong buồng thao tác cách ly khí argon, đảm bảo phân tích an toàn lithium trạng thái rắn.

Kính hiển vi điện t�?quét đ�?bàn với súng phát x�?trường Pharos G2 của Thermo Fisher s�?vượt trội hơn so với SEM đặt sàn v�?chất lượng hình ảnh, đồng thời mang lại trải nghiệm người dùng tốt hơn. Đối với các phòng thí nghiệm công nghiệp và học thuật cho đến nay vẫn chưa s�?dụng SEM như một lựa chọn thực t�? Phenom Pharos G2 FEG-SEM giúp tối ưu hiệu suất FEG nh�?vào tính năng tải mẫu nhanh và ch�?yêu cầu đào tạo ngắn hạn. Không giống như các SEM khác, Phenom Pharos G2 FEG-SEM có th�?thực hiện các công việc chụp ảnh và phân tích một cách trơn tru.

Phenom Pharos G2 FEG-SEM mới m�?rộng dải điện áp gia tốc xuống 1 kV, đ�?phù hợp tốt hơn với các mẫu cách điện và nhạy với chùm tia, và lên đến 20 kV, với đ�?phân giải 2,0 nm cho thấy những chi tiết với đ�?phân giải cao nhất.

Công suất mẫu cao hơn được h�?tr�?bởi Bàn soi thông minh mới được thiết k�?lại và h�?thống phát hiện Ultra-X EDS mới. Các tính năng này giúp tăng hiệu suất đo lường TEM khoảng 15% và phân tích nguyên t�?EDS nhanh hơn gấp 2 lần. Giai đoạn thông minh h�?tr�?tải mẫu hoàn toàn t�?động và điều hướng chính xác đến vùng quan tâm (ROI). Thấu kính công suất không đổi mới cho phép chuyển đổi cường đ�?cao trong vòng chưa đầy 20 phút, tăng tính kh�?dụng của thiết b�?/p>

Phân tích nguyên t�?nhanh

Metrios 6 (S)TEM với máy dò Ultra-X EDS mang đến mức đ�?phát hiện EDS mới cho các giải pháp thông lượng cao. Máy dò Ultra-X EDS tiên tiến cung cấp góc đặc 4,45 srad, mang lại hiệu qu�?thu thập d�?liệu cao hơn ít nhất gấp 2 lần so với th�?h�?máy dò trước đó. Điều này cho phép thu thập d�?liệu trong thời gian ngắn hơn mà vẫn đảm bảo tính toàn vẹn của các mẫu nhạy với chùm tia. Ngoài những kh�?năng này, Ultra-X còn m�?ra các cơ hội phân tích EDS mới với ph�?EDS sạch nhất, (<1% đỉnh gi�?.

T�?động hóa không cần công thức cho phép đo (S)TEM

T�?động hóa hoàn toàn, không cần công thức s�?dụng các thuật toán học máy đ�?giảm đáng k�?thời gian thiết lập t�?động hóa cho từng quy trình hoặc loại mẫu mới nhằm mang lại tính d�?s�?dụng và kh�?năng m�?rộng. T�?động hóa thông minh dành riêng cho ứng dụng h�?tr�?nhiều loại thiết b�?bán dẫn, chẳng hạn như cổng toàn diện (GAA), DRAM và 3D NAND. Thuật toán phát hiện đối tượng và phân đoạn dựa trên web mới cung cấp kh�?năng đào tạo mô hình v�?cấu trúc thiết b�?nhanh hơn 50 lần. Ngoài ra, T�?động hóa thông minh có th�?m�?rộng đ�?đáp ứng các yêu cầu sản xuất và R&D chất bán dẫn tiên tiến trong tương lai.

Năng suất và đo lường

Việc cải thiện hiệu suất bán dẫn và đẩy nhanh tốc đ�?sản xuất có th�?là một thách thức. Đ�?phức tạp 3D ngày càng tăng của các thiết b�?bán dẫn đang tạo ra nhu cầu chưa từng có v�?d�?liệu đo lường TEM chất lượng cao. Metrios 6 (S)TEM có phần cứng hiện đại và phần mềm t�?động hóa dựa trên máy học đ�?đo lường tham chiếu và giám sát quy trình. Giải pháp này được thiết k�?đ�?giúp các phòng thí nghiệm bán dẫn tăng công suất mẫu và thu thập d�?liệu khối lượng lớn nhằm tăng năng suất và đẩy nhanh thời gian thu được năng suất.

Đặc tính vật lý và hóa học

Việc phát triển các thiết b�?bán dẫn hiện đại đòi hỏi phải mô t�?đặc tính vật lý, cấu trúc và nguyên t�?trên các lỗi �?quy mô nguyên t�?với s�?xem xét đặc biệt đối với các vật liệu nhạy với chùm tia điện t�? Metrios 6 (S)TEM h�?tr�?quy trình chụp ảnh và mô t�?đặc tính linh hoạt đ�?phân tích nguyên nhân gốc r�?chính xác và phát triển quy trình nhanh hơn. Làm việc trên các vật liệu nhạy với chùm tia ph�?thuộc vào hiệu qu�?thu thập d�?liệu được nâng cao và mức đ�?tiếp xúc với chùm tia điện t�?�?mức tối thiểu đ�?duy trì tính toàn vẹn của d�?liệu. Metrios 6 (S)TEM có h�?thống phát hiện Ultra-X EDS và chuyển mạch điện áp cao nhanh đ�?xác định nhanh đặc tính vật lý và nguyên t�?của các thiết b�?bán dẫn.

Đo lường và phân tích thiết b�?b�?nh�?/strong>