Thermo Scientific Scios 2 DualBeam là h�?thống kính hiển vi ion hội t�?kết hợp điện t�?quét (FIB-SEM) có đ�?phân giải cực cao mang lại hiệu suất chuẩn b�?mẫu và mô t�?đặc tính 3D vượt trội cho nhiều loại mẫu, bao gồm c�?vật liệu t�?tính và không dẫn điện. Với các tính năng cải tiến được thiết k�?đ�?tăng thông lượng, đ�?chính xác và d�?s�?dụng, Scios 2 DualBeam là giải pháp lý tưởng đáp ứng nhu cầu của các nhà khoa học và k�?sư trong nghiên cứu và phân tích nâng cao trên các môi trường nghiên cứu học thuật, chính ph�?và công nghiệp.

Đặc tính dưới b�?mặt

Đặc tính dưới b�?mặt hoặc ba chiều thường được yêu cầu đ�?hiểu rõ hơn v�?cấu trúc và tính chất của mẫu. Scios 2 DualBeam, với Phần mềm Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) tùy chọn, cho phép thu thập các b�?d�?liệu 3D đa phương thức, chất lượng cao, hoàn toàn t�?động, bao gồm hình ảnh điện t�?tán x�?ngược (BSE) đ�?đạt đ�?tương phản vật liệu tối đa, phân tán năng lượng quang ph�?(EDS) đ�?biết thông tin v�?thành phần và nhiễu x�?tán x�?ngược điện t�?(EBSD) đ�?biết thông tin v�?cấu trúc vi mô và tinh th�? Kết hợp với Phần mềm Thermo Scientific Avizo, Scios 2 DualBeam mang đến giải pháp quy trình làm việc độc đáo đ�?mô t�?và phân tích 3D tiên tiến, có đ�?phân giải cao �?quy mô nanomet.

Hình ảnh điện t�?tán x�?ngược và điện t�?th�?cấp

Cột điện t�?NICol cải tiến cung cấp nền tảng cho kh�?năng phát hiện và hình ảnh có đ�?phân giải cao của h�?thống. Nó cung cấp các chi tiết có kích thước nano tuyệt vời, với nhiều điều kiện làm việc, cho dù hoạt động �?mức 30 keV �?ch�?đ�?STEM (đ�?truy cập thông tin cấu trúc) hay �?mức năng lượng thấp hơn (đ�?thu được thông tin b�?mặt chi tiết, miễn phí). Với H�?thống phát hiện b�?ba khoa học nhiệt đ�?độc đáo trong ống kính, Scios 2 DualBeam được thiết k�?đ�?thu nhận đồng thời hình ảnh điện t�?th�?cấp góc và chọn lọc năng lượng (SE) và BSE. Có th�?truy cập nhanh vào thông tin chi tiết có kích thước nano không ch�?t�?trên xuống mà còn trên các mẫu nghiêng hoặc mặt cắt ngang. B�?dò dưới ống kính tùy chọn và ch�?đ�?giảm tốc chùm tia điện t�?đảm bảo thu thập đồng thời tất c�?các tín hiệu nhanh chóng và d�?dàng, phát hiện các đặc điểm nh�?nhất trên b�?mặt vật liệu hoặc mặt cắt ngang. Kết qu�?nhanh, chính xác và có th�?lặp lại nh�?thiết k�?cột NICol độc đáo với kh�?năng căn chỉnh hoàn toàn t�?động.

Chuẩn b�?mẫu TEM

Các nhà khoa học và k�?sư liên tục phải đối mặt với những thách thức mới đòi hỏi đặc tính cục b�?cao của các mẫu ngày càng phức tạp với các tính năng ngày càng nh�?hơn. Những cải tiến công ngh�?mới nhất của Scios 2 DualBeam, kết hợp với Phần mềm Thermo Scientific AutoTEM 4 toàn diện, d�?s�?dụng, tùy chọn và kiến thức chuyên môn v�?ứng dụng của Thermo Fisher Scientific, cho phép chuẩn b�?nhanh chóng và d�?dàng S/đ�?phân giải cao cho từng địa điểm c�?th�? Mẫu TEM cho nhiều loại vật liệu. Đ�?đạt được kết qu�?chất lượng cao, cần phải đánh bóng lần cuối bằng các ion năng lượng thấp đ�?giảm thiểu hư hỏng b�?mặt trên mẫu. Cột Chùm tia ion tập trung HT (FIB) của Thermo Scientific Sidewinder không ch�?mang lại hình ảnh có đ�?phân giải cao �?điện áp cao mà còn mang lại hiệu suất điện áp thấp tốt, cho phép tạo ra các mẫu TEM chất lượng cao.

Aquilos 2 Cryo-FIB giúp t�?động hóa các bước trong quy trình làm việc đ�?tạo ra nhiều lamellas t�?các v�?trí được lập trình c�?th�? Phần lạnh được cải tiến s�?mang lại cho bạn thời gian chạy lâu hơn với t�?l�?ô nhiễm cực thấp.

Chụp cắt lớp các phân t�?sinh học trong bối cảnh t�?bào đòi hỏi phải chuẩn b�?mẫu có đ�?chính xác cao với cryo-FIB, có th�?đạt được thông tin t�?kính hiển vi huỳnh quang tích hợp. Hiện đã có sẵn cho Aquilos 2 Cryo-FIB, H�?thống tương quan iFLM khoa học nhiệt kết hợp kính hiển vi ánh sáng và điện t�?trong một h�?thống. Điều này giúp loại b�?s�?cần thiết của các bước chuyển mẫu b�?sung và cho phép bạn tạo ra giải pháp tương quan nhiệt đ�?thấp hợp lý hơn cho chụp cắt lớp lạnh. H�?thống tương quan iFLM (Kính hiển vi ánh sáng huỳnh quang tích hợp) định v�?các điểm huỳnh quang bên trong buồng, cho phép bạn tương quan hai phương thức hình ảnh trong một h�?thống, t�?đó đảm bảo mẫu �?đúng v�?trí.

Chụp cắt lớp điện t�?lạnh (cryo-ET) cung cấp thông tin v�?hoạt động bên trong của t�?bào, nhưng kết qu�?rõ ràng, đáng tin cậy ph�?thuộc vào việc chuẩn b�?cryo-lamella chất lượng cao. Chùm ion hội t�?Thermo Scientific Arctis Cryo-Plasma (Cryo-PFIB) được thiết k�?đặc biệt đ�?sản xuất cryo-lamellae t�?động, công suất cao t�?các t�?bào lạnh. H�?thống Autoloader của nó cung cấp một kết nối trực tiếp, độc đáo giữa quá trình chuẩn b�?mẫu cryo-FIB-SEM và kính hiển vi điện t�?truyền qua cryo (cryo-TEM) trong quy trình chụp cắt lớp.

H�?thống Laser Thermo Scientific Helios 5 PFIB kết hợp phương pháp phay chùm tia ion tập trung plasma với phương pháp phá hủy bằng laser femto giây và hình ảnh SEM (kính hiển vi điện t�?quét). S�?kết hợp “TriBeam�?này cho phép chụp ảnh và phân tích có đ�?phân giải cao với kh�?năng cắt b�?tại ch�? mang lại tốc đ�?loại b�?vật liệu chưa từng có đ�?xác định đặc tính nhanh �?quy mô milimet �?đ�?phân giải nanomet.

Laser femto giây có th�?cắt nhiều vật liệu với tốc đ�?nhanh hơn nhiều so với FIB thông thường. Một mặt cắt ngang lớn (hàng trăm micromet) có th�?được tạo ra trong vòng chưa đầy 5 phút. Bởi vì tia laser có cơ ch�?loại b�?khác (cắt b�?so với phún x�?ion của FIB), nên nó có th�?d�?dàng x�?lý các vật liệu khó khăn, chẳng hạn như các mẫu không dẫn điện hoặc nhạy cảm với chùm tia ion.

Khoảng thời gian cực ngắn của các xung laser femto giây hầu như không gây ra hiện tượng nào như tác động nhiệt, nứt vi mô, nóng chảy hoặc những hiện tượng điển hình của đánh bóng cơ học truyền thống. Trong hầu hết các trường hợp, các b�?mặt được phay bằng laser đ�?sạch đ�?chụp ảnh SEM trực tiếp và thậm chí cho các k�?thuật nhạy với b�?mặt như ánh x�?nhiễu x�?tán x�?ngược điện t�?(EBSD).

Thermo Fisher cung cấp danh mục sản phẩm đa dạng và kh�?năng t�?động hóa tiên tiến cho các ứng dụng như chuẩn b�?mẫu bằng kính hiển vi điện t�?truyền qua (TEM), chuẩn b�?mẫu chụp cắt lớp đầu dò nguyên t�?(APT) và phân tích cấu trúc 3D.

Chuẩn b�?mẫu chụp cắt lớp đầu dò nguyên t�?và kính hiển vi điện t�?truyền qua

Được xây dựng trên nền tảng Helios 5 DualBeam đã được chứng minh, các thiết b�?này kết hợp một b�?công ngh�?tiên tiến đ�?cung cấp kh�?năng chuẩn b�?mẫu hiệu suất cao, đ�?phân giải cao cho kính hiển vi điện t�?truyền qua (TEM) và chụp cắt lớp đầu dò nguyên t�?(APT) và hiệu suất cực k�?cao. -đ�?phân giải hình ảnh SEM với đ�?tương phản vật liệu chính xác.

Phân tích kết cấu 3D

Khi kết hợp với Phần mềm cắt và xem t�?động Thermo Scientific, các thiết b�?TriBeam cung cấp cái nhìn sâu sắc 3D v�?cấu trúc mẫu bằng cách loại b�?(phay) có chọn lọc vật liệu đ�?xác định đặc tính dưới b�?mặt. Tái tạo k�?thuật s�?tạo ra các b�?d�?liệu 3D đa phương thức có th�?bao gồm nhiều tín hiệu khác nhau, bao gồm hình ảnh điện t�?tán x�?ngược (BSE) đ�?có đ�?tương phản vật liệu tối đa, quang ph�?tán sắc năng lượng (EDS) đ�?biết thông tin v�?thành phần và nhiễu x�?tán x�?ngược điện t�?(EBSD) cho vi cấu trúc và tinh th�?thông tin. Kh�?năng SEM của thiết b�?TriBeam cung cấp các chi tiết có kích thước nano trong nhiều điều kiện làm việc khác nhau, t�?thông tin cấu trúc thu được �?mức 30 keV �?ch�?đ�?STEM đến thông tin b�?mặt chi tiết �?mức năng lượng thấp hơn. Với b�?dò bên trong ống kính độc đáo, h�?thống TriBeam được thiết k�?đ�?thu thập đồng thời d�?liệu BSE và điện t�?th�?cấp chọn lọc năng lượng/góc. Kết qu�?nhanh, chính xác và có th�?lặp lại được mang lại nh�?thiết k�?cột SEM độc đáo, có tính năng căn chỉnh ống kính hoàn toàn t�?động.

Có th�?d�?dàng chuyển đổi giữa argon, nitơ, oxy và xenon trong vòng chưa đầy 10 phút mà không làm giảm hiệu suất. Tính linh hoạt chưa từng có này m�?rộng đáng k�?không gian ứng dụng tiềm năng của PFIB và cho phép nghiên cứu tương tác ion-mẫu đ�?tối ưu hóa các trường hợp s�?dụng hiện có.

Helios 5 Hydra DualBeam kết hợp Cột plasma FIB (PFIB) đa loại ion mới, cải tiến với Cột Thermo Scientific Elstar UC+ SEM đơn sắc đ�?mang lại hiệu suất chùm tia ion và electron tập trung tiên tiến. Phần mềm trực quan, mức đ�?t�?động hóa và tính d�?s�?dụng cho phép quan sát và phân tích khối lượng dưới b�?mặt có liên quan.

Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam mang lại kh�?năng vượt trội cho các ứng dụng khoa học vật liệu và bán dẫn. Đối với các nhà nghiên cứu khoa học vật liệu, Helios 5 PFIB DualBeam cung cấp đặc tính 3D khối lượng lớn, chuẩn b�?mẫu không chứa gali và gia công vi mô chính xác. Đối với các nhà sản xuất thiết b�?bán dẫn, công ngh�?đóng gói tiên tiến và thiết b�?hiển th�? Helios 5 PFIB DualBeam mang đến kh�?năng kh�?hư hỏng, x�?lý trên diện rộng, chuẩn b�?mẫu nhanh và phân tích lỗi có đ�?chính xác cao.

Thermo Scientific Helios 5 DualBeam mới được xây dựng dựa trên kh�?năng phân tích và chụp ảnh hiệu suất cao của dòng Helios DualBeam dẫn đầu ngành. Nó được thiết k�?cẩn thận đ�?đáp ứng nhu cầu của các nhà nghiên cứu và k�?sư khoa học vật liệu đối với nhiều trường hợp s�?dụng kính hiển vi ion hội t�?kết hợp điện t�?quét (FIB-SEM) �?ngay c�?trên những mẫu th�?thách nhất.

Helios 5 DualBeam xác định lại tiêu chuẩn v�?hình ảnh có đ�?phân giải cao với đ�?tương phản vật liệu cao; chuẩn b�?mẫu chất lượng cao nhanh chóng, d�?dàng và chính xác cho chụp ảnh (S)TEM và chụp cắt lớp (APT) cũng như mô t�?đặc tính 3D và dưới b�?mặt chất lượng cao. Dựa trên những kh�?năng đã được chứng minh của dòng Helios DualBeam, những cải tiến b�?sung cho Helios 5 DualBeam mới được thiết k�?đ�?đảm bảo h�?thống được tối ưu hóa cho nhiều quy trình làm việc th�?công hoặc t�?động. Những cải tiến đó bao gồm:

• D�?s�?dụng hơn: Helios 5 DualBeam là DualBeam d�?tiếp cận nhất đối với người dùng �?mọi cấp đ�?trải nghiệm. Việc đào tạo người vận hành có th�?giảm t�?vài tháng xuống còn vài ngày và thiết k�?h�?thống đang giúp tất c�?người vận hành đạt được kết qu�?nhất quán, có th�?lặp lại trên nhiều ứng dụng nâng cao.
• Tăng năng suất: Kh�?năng t�?động hóa nâng cao, cải tiến mạnh m�?và ổn định trong phần mềm Helios 5 DualBeam và Thermo Scientific AutoTEM 5 có th�?tăng đáng k�?năng suất chuẩn b�?mẫu bằng cách cho phép vận hành không cần giám sát và thậm chí hoạt động qua đêm.
• Cải thiện thời gian cho kết qu�?/strong>: Helios 5 DualBeam hiện bao gồm FLASH, một khái niệm mới v�?điều chỉnh hình ảnh. Với kính hiển vi thông thường, mỗi lần người vận hành cần thu được hình ảnh, kính hiển vi phải được điều chỉnh cẩn thận bằng cách căn chỉnh lặp đi lặp lại. Với Helios 5 DualBeam, một c�?ch�?đơn giản trên màn hình s�?kích hoạt FLASH, t�?động điều chỉnh các thông s�?này. Việc điều chỉnh t�?động có th�?cải thiện đáng k�?thông lượng, chất lượng d�?liệu và đơn giản hóa việc thu được hình ảnh chất lượng cao.