Metrios 6 – Công ty TNHH TM DV KT Minh Khang //gd-1.com Wed, 03 Apr 2024 07:07:08 +0000 vi hourly 1 //wordpress.org/?v=6.6.2 //gd-1.com/wp-content/uploads/2021/02/favicon-32x32.png Metrios 6 – Công ty TNHH TM DV KT Minh Khang //gd-1.com 32 32 Metrios 6 – Công ty TNHH TM DV KT Minh Khang //gd-1.com/san-pham/metrios-6-kinh-hien-vi-dien-tu-truyen-qua-tem/ Wed, 03 Apr 2024 07:05:47 +0000 //gd-1.com/?post_type=product&p=12218 Quy trình đo lường chất bán dẫn hoàn toàn t?động, năng suất cao Thermo Scientific Metrios 6 (S)TEM là giải pháp đo lường hoàn toàn t?động, th?h?mới với năng suất và chất lượng d?liệu được nâng cao cho phép đo TEM khối lượng lớn. Với phần cứng được thiết k?mới và kh?năng dựa trên máy học, Metrios 6 (S)TEM cải thiện năng suất trung bình 20% so với các giải pháp th?h?trước. Metrios 6 (S)TEM bao gồm Bàn soi thông minh mới, máy dò Ultra-X EDS, tùy chọn nguồn X-CFEG đ?sáng cao và phần mềm T?động hóa thông minh. S?kết hợp này giúp cải thiện năng suất với tính toàn vẹn của d?liệu, phân tích nguyên t?nhanh và t?động hóa không cần công thức cho các hoạt động phòng thí nghiệm có th?m?rộng và tối ưu hóa tài nguyên.]]> Tăng năng suất và tính toàn vẹn d?liệu

Công suất mẫu cao hơn được h?tr?bởi Bàn soi thông minh mới được thiết k?lại và h?thống phát hiện Ultra-X EDS mới. Các tính năng này giúp tăng hiệu suất đo lường TEM khoảng 15% và phân tích nguyên t?EDS nhanh hơn gấp 2 lần. Giai đoạn thông minh h?tr?tải mẫu hoàn toàn t?động và điều hướng chính xác đến vùng quan tâm (ROI). Thấu kính công suất không đổi mới cho phép chuyển đổi cường đ?cao trong vòng chưa đầy 20 phút, tăng tính kh?dụng của thiết b?/p>

Phân tích nguyên t?nhanh

Metrios 6 (S)TEM với máy dò Ultra-X EDS mang đến mức đ?phát hiện EDS mới cho các giải pháp thông lượng cao. Máy dò Ultra-X EDS tiên tiến cung cấp góc đặc 4,45 srad, mang lại hiệu qu?thu thập d?liệu cao hơn ít nhất gấp 2 lần so với th?h?máy dò trước đó. Điều này cho phép thu thập d?liệu trong thời gian ngắn hơn mà vẫn đảm bảo tính toàn vẹn của các mẫu nhạy với chùm tia. Ngoài những kh?năng này, Ultra-X còn m?ra các cơ hội phân tích EDS mới với ph?EDS sạch nhất, (<1% đỉnh gi?.

T?động hóa không cần công thức cho phép đo (S)TEM

T?động hóa hoàn toàn, không cần công thức s?dụng các thuật toán học máy đ?giảm đáng k?thời gian thiết lập t?động hóa cho từng quy trình hoặc loại mẫu mới nhằm mang lại tính d?s?dụng và kh?năng m?rộng. T?động hóa thông minh dành riêng cho ứng dụng h?tr?nhiều loại thiết b?bán dẫn, chẳng hạn như cổng toàn diện (GAA), DRAM và 3D NAND. Thuật toán phát hiện đối tượng và phân đoạn dựa trên web mới cung cấp kh?năng đào tạo mô hình v?cấu trúc thiết b?nhanh hơn 50 lần. Ngoài ra, T?động hóa thông minh có th?m?rộng đ?đáp ứng các yêu cầu sản xuất và R&D chất bán dẫn tiên tiến trong tương lai.

Năng suất và đo lường

Việc cải thiện hiệu suất bán dẫn và đẩy nhanh tốc đ?sản xuất có th?là một thách thức. Đ?phức tạp 3D ngày càng tăng của các thiết b?bán dẫn đang tạo ra nhu cầu chưa từng có v?d?liệu đo lường TEM chất lượng cao. Metrios 6 (S)TEM có phần cứng hiện đại và phần mềm t?động hóa dựa trên máy học đ?đo lường tham chiếu và giám sát quy trình. Giải pháp này được thiết k?đ?giúp các phòng thí nghiệm bán dẫn tăng công suất mẫu và thu thập d?liệu khối lượng lớn nhằm tăng năng suất và đẩy nhanh thời gian thu được năng suất.

Đặc tính vật lý và hóa học

Việc phát triển các thiết b?bán dẫn hiện đại đòi hỏi phải mô t?đặc tính vật lý, cấu trúc và nguyên t?trên các lỗi ?quy mô nguyên t?với s?xem xét đặc biệt đối với các vật liệu nhạy với chùm tia điện t? Metrios 6 (S)TEM h?tr?quy trình chụp ảnh và mô t?đặc tính linh hoạt đ?phân tích nguyên nhân gốc r?chính xác và phát triển quy trình nhanh hơn. Làm việc trên các vật liệu nhạy với chùm tia ph?thuộc vào hiệu qu?thu thập d?liệu được nâng cao và mức đ?tiếp xúc với chùm tia điện t??mức tối thiểu đ?duy trì tính toàn vẹn của d?liệu. Metrios 6 (S)TEM có h?thống phát hiện Ultra-X EDS và chuyển mạch điện áp cao nhanh đ?xác định nhanh đặc tính vật lý và nguyên t?của các thiết b?bán dẫn.

Đo lường và phân tích thiết b?b?nh?/strong>

Việc sản xuất các thiết b?b?nh?tiên tiến, chẳng hạn như 3D NAND và DRAM, đòi hỏi phép đo TEM chính xác, khối lượng lớn trên các kích thước nh? quan trọng trong các cấu trúc có t?l?khung hình cao. Với quy trình làm việc hoàn toàn t?động, Metrios 6 (S)TEM mang lại phép đo tham chiếu chất lượng cao, năng suất cao và phân tích lỗi cho các cấu trúc thiết b?b?nh?tiên tiến.

]]>