Trong nghiên cứu và sản xuất pin, chất lượng vật liệu ngày càng tr�?nên quan trọng. Ví d�? các chất gây ô nhiễm nh�?trong bột NCM có th�?gây ra hậu qu�?tai hại cho sản phẩm cuối cùng. Đ�?theo dõi các chất gây ô nhiễm này một cách hiệu qu�? cần có hình ảnh SEM đ�?phân giải cao với phân tích EDS cho hóa học. Khi hoàn toàn t�?động, s�?kết hợp này là một công c�?mạnh m�?đ�?kiểm tra chất lượng bột.