Bắn cá - Công ty TNHH trò chơi

K-Alpha – Thiết bị quang phổ quang điện tử tia X

Máy quang phổ quang điện tử tia X để phân tích bề mặt hiệu suất cao.

Máy quang phổ quang điện tử tia X K-Alpha

Hệ thống Máy quang phổ quang điện tử tia X(XPS) K-Alpha của Thermo Scientific mang đến một phương pháp mới để phân tích bề mặt. Hệ thống K-Alpha giúp hoạt động XPS trở nên đơn giản và trực quan, cho phép tập trung vào việc mang lại kết quả chất lượng cao bằng quy trình làm việc hợp lý

Hiệu suất tiên tiến, giảm chi phí sở hữu, tăng tính dễ sử dụng và năng suất mẫu cao khiến Hệ thống K-Alpha XPS trở nên lý tưởng cho môi trường nhiều người dùng. Hệ thống K-Alpha XPS giúp nhiều nhà nghiên cứu trên khắp thế giới tiếp cận với phân tích bề mặt.

Loại máy phân tích 
  • Máy phân tích bán cầu lấy nét kép 180°, máy dò 128 kênh
Loại nguồn tia X
  • Nguồn tia X Al K-Alpha đơn sắc, vi hội tụ, công suất thấp
Kích thước điểm X-quang
  • 50–400 µm (có thể điều chỉnh theo bước 5 µm)
Phân tích chiều sâu
  • Nguồn ion EX06
Diện tích mẫu tối đa
  • 60x60mm
Độ dày mẫu tối đa
  • 20 mm
Hệ thống chân không
  • Hai máy bơm phân tử turbo, với máy bơm thăng hoa titan tự động và máy bơm hỗ trợ
Phụ kiện tùy chọn
  • Giá đỡ mẫu ADXPS, giá giữ mẫu chức năng làm việc, hộp kín

Nguồn tia X hiệu suất cao

Bộ đơn sắc tia X cho phép lựa chọn vùng phân tích từ 50 µm đến 400 µm theo các bước 5 µm, điều chỉnh phù hợp với đặc điểm quan tâm để tối đa hóa tín hiệu.

Quang học điện tử được tối ưu hóa

Thấu kính điện tử hiệu suất cao, máy phân tích bán cầu và máy dò cho phép khả năng phát hiện vượt trội và thu thập dữ liệu nhanh chóng.

Xem mẫu

Tập trung vào các đặc điểm của mẫu bằng hệ thống quan sát quang học được cấp bằng sáng chế của Hệ thống K-Alpha XPS và XPS SnapMap, giúp bạn xác định chính xác các khu vực quan tâm một cách nhanh chóng.

Phân tích chất cách điện

Lớp bảo vệ tia ion kép đã được cấp bằng sáng chế kết hợp các tia ion năng lượng thấp với các electron năng lượng rất thấp (dưới 1 eV) để ngăn chặn việc tích điện mẫu trong quá trình phân tích, giúp loại bỏ nhu cầu tham chiếu điện tích trong hầu hết các trường hợp.

Phân tích chiều sâu

Tối ưu hóa nguồn tự động và xử lý khí đảm bảo hiệu suất tối ưu và khả năng tái tạo thử nghiệm.

Điều khiển kỹ thuật số

Hoạt động trực quan—được hướng dẫn bởi hệ thống dữ liệu Avantage—làm cho Hệ thống K-Alpha XPS trở nên lý tưởng cho cả cơ sở nhiều người dùng, cơ sở dùng chung và các chuyên gia XPS cần một thiết bị hoạt động hiệu quả và phân tích thông lượng cao.

Giá đỡ mẫu tùy chọn

Hiện có sẵn các giá đỡ mẫu chuyên dụng để phân giải góc XPS, đo độ lệch mẫu hoặc để chuyển trơ từ hộp kín.

  • Nghiên cứu về pin
  • Nghiên cứu kim loại
  • Nghiên cứu polyme
  • Nghiên cứu địa chất
  • Dầu khí
  • Hạt nano
  • Pháp y
  • Nghiên cứu xúc tác
  • Sợi và bộ lọc
  • Vật liệu 2D
  • Thử nghiệm vật liệu ô tô

Quang phổ quang điện tử tia X (XPS)

Quang phổ quang điện tử tia X (XPS) cho phép phân tích bề mặt, cung cấp thành phần nguyên tố cũng như trạng thái hóa học và điện tử ở 10 nm trên cùng của vật liệu. Với khả năng phân tích chiều sâu, phân tích XPS mở rộng phân tích tầng sâu về thành phần của các lớp.