Quang phổ quang điện tử tia X
Hệ thống Máy quang phổ quang điện tử tia X (XPS) Nexsa G2 của Thermo Scientific cung cấp khả năng phân tích bề mặt năng suất cao, hoàn toàn tự động, cung cấp dữ liệu để thúc đẩy nghiên cứu và phát triển hoặc giải quyết các vấn đề sản xuất. Việc tích hợp XPS với quang phổ tán xạ ion (ISS), quang phổ quang điện tử UV (UPS), quang phổ tổn thất năng lượng điện tử phản xạ (REELS) và quang phổ Raman, cho phép tiến hành phân tích tương quan thực sự. Hệ thống hiện bao gồm các tùy chọn làm nóng mẫu và khả năng phân cực mẫu để tăng phạm vi thử nghiệm hiện có. Hệ thống phân tích bề mặt Nexsa G2 mở ra tiềm năng cho những tiến bộ trong khoa học vật liệu, vi điện tử, phát triển công nghệ nano và nhiều ứng dụng khác.
Nguồn tia X hiệu suất cao
Bộ đơn sắc tia X mới, công suất thấp cho phép lựa chọn vùng phân tích từ 10 µm đến 400 µm theo các bước 5 µm, đảm bảo dữ liệu được thu thập từ đặc điểm quan tâm trong khi tối đa hóa tín hiệu.
Quang học điện tử được tối ưu hóa
Thấu kính điện tử hiệu suất cao, máy phân tích bán cầu và máy dò cho phép khả năng phát hiện vượt trội và thu thập dữ liệu nhanh chóng.
Xem mẫu
Làm nổi bật các tính năng mẫu bằng hệ thống xem quang học đã được cấp bằng sáng chế của Hệ thống Nexsa XPS và XPS SnapMap, giúp bạn xác định chính xác các khu vực quan tâm một cách nhanh chóng bằng cách sử dụng hình ảnh XPS được lấy nét hoàn toàn.
Phân tích chất cách điện
Lớp bảo vệ tia ion kép đã được cấp bằng sáng chế kết hợp các tia ion năng lượng thấp với các electron năng lượng rất thấp (dưới 1 eV) để ngăn chặn việc tích điện mẫu trong quá trình phân tích, giúp loại bỏ nhu cầu tham chiếu điện tích, việc phân tích dữ liệu từ các mẫu cách điện trở nên dễ dàng và đáng tin cậy.
Phân tích chiều sâu
Phân tích tầng sâu với nguồn ion tiêu chuẩn hoặc MAGCIS, nguồn ion cụm khí và đơn nguyên tử chế độ kép tùy chọn; tối ưu hóa nguồn tự động và xử lý khí đảm bảo hiệu suất tuyệt vời và khả năng tái tạo thử nghiệm.
Giá đỡ mẫu tùy chọn
Hiện có sẵn các giá đỡ mẫu chuyên dụng để phân giải góc XPS, đo độ lệch mẫu hoặc để chuyển trơ từ hộp kín
Điều khiển kỹ thuật số
Kiểm soát công cụ, xử lý dữ liệu và báo cáo đều được kiểm soát từ hệ thống dữ liệu Avantage dựa trên Phần mềm Windows.
Mô-đun gia nhiệt mẫu NX
Tùy chọn gia nhiệt mẫu hoàn toàn được điều khiển bằng phần mềm, cho phép nghiên cứu phụ thuộc vào nhiệt độ.
Quy trình phân tích bề mặt đa kỹ thuật
Để đáp ứng nhu cầu mô tả đặc tính rộng rãi của các bề mặt, Thermo Fisher đã thiết lập quy trình làm việc đa kỹ thuật dựa trên việc sử dụng Đầu dò vi mô Thermo Scientific ESCALAB CXi XPS hoặc Hệ thống phân tích bề mặt Thermo Scientific Nexsa. Những thiết bị này được thiết kế như những trạm làm việc đa kỹ thuật để cung cấp những phân tích toàn diện một cách kịp thời và hiệu quả.
Quang phổ quang điện tử tia X (XPS)
Quang phổ quang điện tử tia X (XPS) cho phép phân tích bề mặt, cung cấp thành phần nguyên tố cũng như trạng thái hóa học và điện tử ở 10 nm trên cùng của vật liệu. Với khả năng phân tích chiều sâu, phân tích XPS mở rộng phân tích tầng sâu về thành phần của các lớp.
EN