Tính sạch kỹ thuật

Với nhu cầu ngày càng tăng về phân tích các hạt nhỏ hơn ngoài phạm vi kính hiển vi ánh sáng trong các ngành công nghiệp (ô tô), SEM để bàn Phenom ParticleX TC (Tính sạch kỹ thuật) cho phép kính hiển vi điện tử quét tự động với phổ tán xạ năng lượng tia X (EDS) . Đây là một lợi thế lớn so với kính hiển vi ánh sáng vì nó cho phép phân loại hóa học các hạt, cung cấp những phân tích chi tiết về quy trình sản xuất và/hoặc môi trường. Có sẵn các báo cáo tiêu chuẩn tuân thủ VDA 19 / ISO 16232 hoặc ISO 4406/4407.

Máy dò điện tử thứ cấp

Máy dò điện tử thứ cấp (SED) có sẵn tùy chọn trên SEM để bàn Phenom ParticleX TC. SED thu thập các electron năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu. Do đó, đây là sự lựa chọn hoàn hảo để phân tích thông tin chi tiết về bề mặt mẫu. SED có thể được sử dụng rất nhiều cho các ứng dụng mà địa hình và hình thái học là quan trọng. Điều này thường xảy ra khi nghiên cứu các cấu trúc vi mô, sợi hoặc hạt.

Dễ sử dụng

Giao diện người dùng dựa trên công nghệ dễ sử dụng đã được chứng minh áp dụng trong các sản phẩm SEM để bàn Phenom thành công. Giao diện cho phép cả người dùng hiện tại và người dùng mới nhanh chóng làm quen với hệ thống mà không cần đào tạo nhiều.

Bản đồ nguyên tố và quét dòng

Đối với người dùng, chỉ cần nhấp và bắt đầu làm việc với chức năng quét dòng và bản đồ nguyên tố của SEM để bàn Phenom ParticleX TC. Chức năng quét dòng hiển thị phân bố phần tử đã được định lượng trong biểu đồ đường.