Kính hiển vi điện tử quét với súng phát xạ trường
Kính hiển vi điện tử quét để bàn với súng phát xạ trường Pharos G2 của Thermo Fisher sẽ vượt trội hơn so với SEM đặt sàn về chất lượng hình ảnh, đồng thời mang lại trải nghiệm người dùng tốt hơn. Đối với các phòng thí nghiệm công nghiệp và học thuật cho đến nay vẫn chưa sử dụng SEM như một lựa chọn thực tế, Phenom Pharos G2 FEG-SEM giúp tối ưu hiệu suất FEG nhờ vào tính năng tải mẫu nhanh và chỉ yêu cầu đào tạo ngắn hạn. Không giống như các SEM khác, Phenom Pharos G2 FEG-SEM có thể thực hiện các công việc chụp ảnh và phân tích một cách trơn tru.
Phenom Pharos G2 FEG-SEM mới mở rộng dải điện áp gia tốc xuống 1 kV, để phù hợp tốt hơn với các mẫu cách điện và nhạy với chùm tia, và lên đến 20 kV, với độ phân giải 2,0 nm cho thấy những chi tiết với độ phân giải cao nhất.
Nguồn phát xạ trường độc đáo
Phenom Pharos G2 FEG-SEM cung cấp nguồn phát xạ trường, đảm bảo độ sáng cao, hình ảnh sắc nét và dòng tia ổn định.
Độ phân giải vượt trội
Phenom Pharos G2 FEG-SEM cung cấp độ phân giải 2,0 nm ở 20 kV. Với hiệu suất như vậy, có thể thấy rõ hình dạng của các hạt nano, lớp phủ chưa đồng đều hoặc các đặc điểm khác mà SEM vonfram hoặc SEM để bàn khác có thể bỏ qua.
Tạo ảnh nhẹ nhàng
Với dải điện áp xuống tới 1 kV, Phenom Pharos G2 FEG-SEM cho phép chụp ảnh các mẫu nhạy với chùm tia, chẳng hạn như polyme, cũng như các mẫu cách điện mà không cần phải có lớp phủ. Kết quả là các đặc điểm bề mặt có kích thước nano không bị khuất
Năng suất cao hơn
Trong khi FEG SEM khó lắp đặt và khó vận hành thì Phenom Pharos G2 FEG-SEM thực sự chỉ cần một bàn làm việc và đào tạo chưa đầy một giờ.Các nhà nghiên cứu khác thường không được đào tạo để làm việc trên FEG SEM cao cấp có thể dễ dàng sử dụng Phenom Pharos G2 FEG-SEM để tạo ra những hình ảnh chất lượng nhất.
Thông tin đa dạng
Trên Phenom Pharos G2 FEG-SEM, thông tin hình thái được thu thập cùng với thông tin thành phần nhờ các máy dò SE, BSE và EDS được tích hợp trong hệ thống. Có nhiều loại giá đỡ mẫu dành cho các thí nghiệm điện hoặc kiểm soát nhiệt độ.
Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử
Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.
Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp một loạt các công cụ EM và quang phổ để phân tích lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.
Nghiên cứu vật liệu cơ bản
Các vật liệu mới được nghiên cứu ở quy mô ngày càng nhỏ hơn để kiểm soát tối đa các tính chất vật lý và hóa học của chúng. Kính hiển vi điện tử cung cấp cho các nhà nghiên cứu cái nhìn sâu sắc về nhiều đặc tính vật liệu ở quy mô vi mô đến nano.
Phổ xạ năng lượng phân tán
Phổ xạ năng lượng phân tán (EDS) thu thập thông tin nguyên tử chi tiết cùng với hình ảnh kính hiển vi điện tử, cung cấp bối cảnh hóa học quan trọng cho quan sát EM. Với EDS, thành phần hóa học có thể được xác định từ các quét bề mặt nhanh chóng, toàn diện đến từng nguyên tử.
Phân tích nguyên tố EDS
Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.
Chụp cắt lớp 3D EDS
Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.
Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS
EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.
Chụp ảnh mẫu nhiệt độ cao
Nghiên cứu vật liệu trong điều kiện thực tế thường liên quan đến làm việc ở nhiệt độ cao. Hành vi của vật liệu khi chúng tái tinh thể hóa, tan chảy, biến dạng, hoặc phản ứng dưới sự hiện diện của nhiệt có thể được nghiên cứu trực tiếp trong điều kiện với kính hiển vi điện tử quét hoặc các công cụ DualBeam.
Thí nghiệm in situ
Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh và làm ướt.
Phân tích đa quy mô
Các vật liệu mới cần được phân tích ở độ phân giải càng cao càng tốt trong khi vẫn giữ nguyên bối cảnh lớn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép liên kết giữa các công cụ và phương pháp hình ảnh khác nhau như X-ray microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM
EN