Phenom Pro Desktop SEM
Dòng kính thế hệ thứ 6 của Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM đã cải tiến các tính năng giữa kính hiển vi ánh sáng và phân tích SEM đặt sàn, do đó mở rộng khả năng của các cơ sở nghiên cứu.
Nhanh chóng và dễ sử dụng, Phenom Pro Desktop SEM có thể được sử dụng để tối ưu phân tích các mẫu thường quy từ các thiết bị SEM đặt sàn. Cấu hình thiết bị và cơ chế nạp mẫu đảm bảo chụp ảnh nhanh chóng với thời gian điều chỉnh tối thiểu giữa các lần thử nghiệm.
Người dùng cơ sở ở bất kỳ cấp độ kinh nghiệm nào cũng có thể nhanh chóng bắt đầu tạo ra kết quả chất lượng cao với Phenom Pro G6 Desktop SEM. Nguồn CeB6 có tuổi thọ cao mang lại độ sáng cao trong khi yêu cầu bảo trì thấp. Ngoài ra, độ ổn định cao và hệ số dạng nhỏ cho phép sử dụng thiết bị trong thực tế mọi môi trường phòng thí nghiệm, không yêu cầu cơ sở hạ tầng chuyên biệt hoặc sự giám sát của chuyên gia.
Dễ dàng
Camera điều hướng màu trong Phenom Pro Desktop SEM cung cấp thông tin giúp bạn tạo liên kết giữa hình ảnh quang học và quang điện tử. Người dùng sẵn sàng chụp ảnh chỉ sau 10 phút đào tạo cơ bản. Có sẵn nhiều loại giá đỡ mẫu để đáp ứng nhiều ứng dụng. Việc nạp mẫu nhanh chóng và dễ dàng nhờ công nghệ nạp mẫu chân không đã được cấp bằng sáng chế
Phần mềm Phenom ProSuite
Phần mềm Thermo Scientific Phenom ProSuite là một nền tảng ứng dụng phần mềm tùy chọn đã được phát triển để nâng cao hơn nữa khả năng của SEM máy tính để bàn Phenom. Phần mềm Phenom ProSuite cho phép trích xuất thông tin tối đa từ các hình ảnh thu được trên Phenom Pro Desktop SEM.
Máy dò điện tử thứ cấp
Máy dò điện tử thứ cấp (SED) có sẵn tùy chọn trên Phenom Pro Desktop SEM. SED thu thập các electron năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu. Do đó, đây là sự lựa chọn tối ưu nhất để phân tích thông tin chi tiết về bề mặt mẫu.
Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử
Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.
Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp một loạt các công cụ EM và quang phổ để phân tích lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.
Nghiên cứu vật liệu cơ bản
Các vật liệu mới được nghiên cứu ở quy mô ngày càng nhỏ hơn để kiểm soát tối đa các tính chất vật lý và hóa học của chúng. Kính hiển vi điện tử cung cấp cho các nhà nghiên cứu cái nhìn sâu sắc về nhiều đặc tính vật liệu ở quy mô vi mô đến nano.
Phân tích nguyên tố EDS
Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.
Chụp cắt lớp 3D EDS
Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.
Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS
EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.
Chụp ảnh mẫu nhiệt độ cao
Nghiên cứu vật liệu trong điều kiện thực tế thường liên quan đến làm việc ở nhiệt độ cao. Hành vi của vật liệu khi chúng tái tinh thể hóa, tan chảy, biến dạng, hoặc phản ứng dưới s
Thí nghiệm in situ
Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh và làm ướt.
Phân tích đa quy mô
Các vật liệu mới cần được phân tích ở độ phân giải càng cao càng tốt trong khi vẫn giữ nguyên bối cảnh lớn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép liên kết giữa các công cụ và phương pháp hình ảnh khác nhau như X-ray microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM
EN